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DataRay CMOS光束质量分析仪
- 产品型号:
- 更新时间:2023-12-29
- 产品介绍:DataRay CMOS光束质量分析仪给连续激光与脉冲激光提供了较好的光束质量分析方案。集成式 CMOS 传感器消除了慧差现象,可实现更高分辨率的输出,更新速率可达 60+ Hz。传感器的水平有效尺寸为 6.6 mm、11.3 mm 和 25 mm,可以测量较大的光束直径。
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产品介绍
品牌 | 其他品牌 | 应用领域 | 环保,化工,电子,综合 |
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DataRay CMOS光束质量分析仪
l 设计工作波长355 至1150nm
l 适用于至小光斑直径 52µm 的光束
l 提供强大易用的免费软件
l 可测量光束漂移、M² 以及发散角等
产品介绍
DataRay 光束质量分析仪给连续激光与脉冲激光提供了较好的光束质量分析方案。集成式 CMOS 传感器消除了慧差现象,可实现更高分辨率的输出,更新速率可达 60+ Hz。传感器的水平有效尺寸为 6.6 mm、11.3 mm 和 25 mm,可以测量较大的光束直径。DataRay光束质量分析仪所提供的有免费、耐用的软件也是该产品的一个优势,该软件具有 M² 测量、光束漂移和记录以及仪器校准等分析功能。这些光束质量分析仪由 USB3.0/2.0 供电,附赠一条 3 米长的柔性螺丝固定电缆。还附赠光密度为 1.0、2.0 和 4.0 的中性密度滤光镜。
产品信息
标题 | 产品编码 |
WinCamD-LCM Beam Profiler | 24-211 |
TaperCamD-LCM Beam Profiler | 24-212 |
BladeCam2-HR Beam Profiler | 24-213 |
BladeCam2-HR-TEL Beam Profiler | 29-186 |