SA-Stage-C单点反射测量支架
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- 更新时间:2023-12-19
- 产品介绍:SA-Stage-C单点反射测量支架是一个光纤探头支架,用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。这一反射光纤探头支架适于固定直径达6.35mm的反射光纤探头和其它取样设备,可以在一个不锈钢支柱上上下滑行,调节高度可达80mm。
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产品介绍
品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 面议 |
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组件类别 | 光学元件 | 应用领域 | 医疗卫生,环保,化工,电子 |
SA-Stage-C单点反射测量支架
SA-Stage-C单点反射测量支架是一个光纤探头支架,用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。
这一反射光纤探头支架适于固定直径达6.35mm的反射光纤探头和其它取样设备,可以在一个不锈钢支柱上上下滑行,调节高度可达80mm。
规格 | SA-Stage-C |
尺寸: | Φ150mm×厚10mm |
高度: | 垂直可调高度80mm |
材质: | 铝合金 |
表面处理: | 亚光发黑 |
适配产品: | QR系列反射光纤 |
用途: | 专为反射光纤测量而设计,能有效固定光纤探头,防止因抖动等人为因素影响检测效果. |
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