产品介绍

适用于可见光和近红外波长的台式背反射仪

特点：

•为特殊应用提供较好的波长

•宽带滑板提高了稳定性

•633纳米-1625纳米

•灵敏度：-75 dB

•USB通信端口

•可用波长范围广

•触摸屏显示

•提供双波长光源

•高分辨率

•可选插入损耗测量功能

•内置存储器

应用领域：

•Oct装置测试

•无源光纤器件的背反射测量

•插入损耗测量

•端到端损耗测量

•质量控制

•部件或系统故障排除

•网络安装

产品描述：

我们的 Limited台式BM-1000和BM-2000背反射仪测量通过尾纤光纤设备或被测光纤反射回来的总累积光回波损耗。测量的反射是由瑞利散射、被测器件（DUT）内折射率的突然变化或连接器端引起的。

台式背反射计在输出端口上配置了FC/APC连接器，以最大限度地减少不必要的反射。该仪表有一个或两个内置SLED、LED或激光二极管，用于测量特定波长的回波损耗。可以在单元中添加一个可选的检测器，用于插入损耗测量。可提供用于校准的参考跳线。

台式背反射计具有特殊的波长，范围从633 nm到1625 nm，从而提供背反射用于非电信应用以及电信的测量能力。请参阅订购信息。

台式背反射计具有一个带有简单图形用户界面的彩色触摸屏显示器。该装置配有内置存储器，允许用户存储测得的DUT测试结果。

台式BM-1000和BM-2000背反射仪可通过内置USB接口远程操作。通用交流/直流电源供应包括在所有单元中。

标准零件的订购信息：

标准产品规格：

1.参考条件：15分钟预热后的环境温度为23°C。

2.取决于激光二极管制造商和工作温度。

3.如果SLED光源对于特定波长不可用，则可能需要Fabry-Perot激光器。

4.取决于波长和光纤类型。

5.当使用SLED时，反射率精度是有保证的。

6.仅限6 IL版本。

7.在1310nm和1550nm的恒定温度下7、6小时和15分钟预热期之后。

8.在恒定温度下15分钟并且在15分钟预热期之后在1310nm和1550nm下。

标准零件的订购示例：

欧洲光纤制造商必须测量单模和保偏跳线在1550 nm和1310 nm处的背反射和插入损耗。制造商需要订购以下零件：

自定义零件的订购信息：

尽管我们强烈建议购买我们的标准产品，js333金沙线路检测也欢迎有机会提供定制设计的产品，以满足您的应用要求。与我们的标准零件清单相比，定制设计的设备或零件的定价可能有所不同。在审查报价时，请考虑以下几点：

•准备全面报价需要额外的时间。

•交付周期通常比正常情况下更长。

•可能会收取非经常性工程（NRE）费用和批量费用。

这些要点将在你的报价中仔细解释，这样你就可以做出明智的决定。

定制零件调查表：

1.你的应用是什么？

2.你打算使用什么波长？

3.您需要什么类型的连接器插座？

4.你用的是哪种光纤？

5.你想测量的最小背反射是多少？

6.您想测量插入损耗吗？

7.你想要单波长光源还是双波长光源？

笔记：

1.对于多模背反射计，可测量的最小背反射为-30 dB。多模背反射计配置有LED光源。

2.对于单模背反射计，在波长为1310 nm或更高的情况下，带角度FC/APC连接器的最小可测量背反射测量值为-70 dB。

3.Fabry-Perot激光二极管可在特殊条件下使用，在这种情况下，零件号末尾将添加“-LD"。

自定义零件的订购示例：

北美光纤制造商必须测量850 nm下多模光纤跳线的背反射。光纤具有62.5/125µm纤芯/包层，端接有FC/PC连接器。制造商需要订购以下零件：

常见问题解答：

Q： 参考跳线和心轴的用途是什么？

A： 参考跳线的一端端接一个平面抛光套圈，以产生精确的反射水平（4%来自空气/玻璃界面）。这用于校准光学回波损耗测量。心轴用于衰减通过光纤的光，以便测量和减去仪器的任何背景信号。

Q： 为了测量回波损耗，您必须使用心轴或指数匹配凝胶衰减测试设备后的反射。这样可以防止同时测量IL和ORL。

Q： 我可以测量FC类型以外的连接器的回波损耗吗？

A： 是的。您只需要使用一端带有FC/APC连接器，另一端带有与测试中的新设备相同的连接器类型的插接线。然后，可以通过一个简单的套管直通连接器将插接线连接到测试设备上。

Q： 无法获得足够低的回波损耗读数。是什么问题？

A： 首先确保插座和连接器清洁。接下来，确保使用心轴衰减测试设备的输出光。如果该值仍然很高，则重新校准装置（调零并参考仪表），如果测量值仍然没有变化，则可能是由于连接器损坏。请记住，测量的回波损耗包括连接器回波损耗。

Q： 应该多久检查一次仪表的校准？

A： 当测量低回波损耗（>55dB）时，我们建议您在每次读数前将仪表归零。否则，可以根据仪表的使用情况进行每日或每周的参考校准。