光学组件的表面质量是对可能会在制造和处理过程中产生的表面缺陷的评估。在大多数情况下，这些缺陷几乎或*不会对成像或聚光应用中的整体系统质量产生负面影响。通常，它们只会略微降低吞吐量或略微增加散射光。但是，某些特定表面会对这些缺陷更为敏感（如成像板的表面），因为这些缺陷将进过聚焦，并且表面会出现高功率，而这些缺陷会增加能量吸收并损坏光学元件。适用于表面质量评级的规定包括：

1、ANSI/OEOSC OP1.002-2009，针对光学和电光仪器 – 光学元素和组件 – 外观缺陷*

2、ISO10110-7：2008，光学和光电- 适用于光学元件和系统的制图 - 第7部分：表面缺陷公差*

3、ISO14997：2003;光学和光学仪器 - 用于检测光学元件表面缺陷的方法

4、MIL-PRF-13830B；管理火控仪器光学组件的制造、组装和检测的一般规格

*可以按照这些标准制造爱特蒙特光学的自定义光学组件

爱特蒙特光学遵循常用的表面质量评级方法：美国军用性能规范MIL-PRF-13830B，该方法采用基于此处规定的校准的标准“划痕和麻点”数。它确定了划痕和麻点的口径，并根据组件的大小及其划痕和麻点数确立了限制每个缺陷所允许数量的规定。

划痕和麻点数是不相关的两位数，通常以连字号分隔：前面是划痕数，后面是麻点数。这些数字通过肉眼将划痕的亮度和麻点的直径与校准标准中对应的内容进行比较来确定，组件和标准均遵从性能规范中规定的光照条件。的划痕和麻点数表明组件的划痕亮度或麻点尺寸不能超出校准标准中的对应数字。

划痕数是以下任意数字之一：10、20、40、60或80，其中划痕亮度从10到80逐渐提高。这并不是准确的测量结果，只是表示组件划痕亮度与校准标准划痕亮度的佳匹配。但是，麻点数是可测量的数字：即大组件麻点的直径，以1/100毫米为单位。因此，直径为0.4mm的麻点将表示为麻点数40，直径为0.2mm的麻点将表示为麻点数20，以此类推（图1）。

图1： 划痕-麻点评估说明

一旦确定划痕和麻点数，即可按照以下方式确定可允许缺陷的限制：

划痕

具有划痕数(LSN)的抓痕长度之和不能超出光学元件直径的四分之一。对于非圆形光学元件，应该使用与该光学元件相同区域的圆形的直径。

麻点

所允许的大尺寸的麻点(N)的总数量不能超过直径除以二十得出的商。

所有麻点直径(d)的总和应该小于或等于所允许的大尺寸的麻点(N)的总数乘以麻点数(D)得出的积。

根据以上限制，直径为100mm且表面质量为60-40的光学元件可以具有多个亮度为60的划痕（总长度不超过25mm）。它所具有的大尺寸，即0.4mm（40麻点数）的挖痕不能超过5个，而且所有麻点的直径之和不能超过4mm。

80-50的划痕-麻点规格通常被视为标准质量，60-40被视为精密质量，而20-10则被视为高精密质量。